雙波段發(fā)射率測(cè)試儀遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀
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人氣：2153 發(fā)布時(shí)間：2011-11-26 10:40 關(guān)鍵詞：雙波段發(fā)射率測(cè)試儀遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：IR-2 應(yīng)用領(lǐng)域：其他 產(chǎn)品價(jià)格： 想了解更多產(chǎn)品詳情，請(qǐng) |
IR-2雙波段發(fā)射率測(cè)試儀、遠(yuǎn)紅外線測(cè)試儀采用反射率法的測(cè)試原理，即通過(guò)采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率，進(jìn)而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測(cè)量常溫樣品在3～5um、8～14um、1～22um三個(gè)波段發(fā)射率。對(duì)特殊需要的用戶，通過(guò)專用的控溫加熱裝置，在常溫至
儀器特點(diǎn)：
1．儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源，采用六位高精度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk)，使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍，而且極大地提高了儀器在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。
2．采用了獨(dú)特的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，使測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3．在儀器設(shè)計(jì)中，考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差，除鏡反射(MR)探測(cè)通道外，還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補(bǔ)償通道，從而確保了儀器的測(cè)量精度。
4．在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè)，進(jìn)一步提高了儀器性能。
5．本儀器操作簡(jiǎn)單、使用方便、測(cè)量快速。
6．可按需更換濾光片，在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
7．在測(cè)量過(guò)程中不損傷被測(cè)樣品。
8．本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要技術(shù)指標(biāo)
1．測(cè)量波段：3～5um、8～14um、1～22um
(若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片)
2．發(fā)射率測(cè)量范圍：0.1～0.99
3．靈敏度NE△ε：0.001
4．示值誤差：±0.02 (ε>0.50)
5．重復(fù)性：±0.01
6．樣品溫度：常溫(特殊用戶為常溫～
7．樣品尺寸：Ф
8．測(cè)量時(shí)間：3秒后按測(cè)量鍵E，即顯示ε測(cè)量值。
9．顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001
10.電 源： 交流220V 50HZ
